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先进封装材料在Chiplet与系统级封装中的应用洞察报告(2026):底部填充胶、临时键合胶与热界面材料的性能演进、国际巨头技术卡位与国产替代突破

发布时间:2026-04-17 浏览次数:0
Chiplet封装
底部填充胶
临时键合胶
热界面材料
国产替代

引言

随着摩尔定律趋近物理极限,Chiplet(小芯片)与系统级封装(SiP/2.5D/3D-IC)已成为延续算力增长的核心路径。据Yole Développement预测,2025年全球先进封装市场规模将达**490亿美元**,年复合增长率(CAGR)达**11.2%**,其中Chiplet驱动的异构集成需求正倒逼上游材料体系重构。而先进封装材料——尤其是**底部填充胶(Underfill)、临时键合胶(Temporary Bonding Adhesive, TBA)和热界面材料(Thermal Interface Materials, TIMs)**——作为实现高密度互连、应力缓冲、热管理与工艺可制造性的“隐形基石”,其性能指标已从传统封装的“可用性”升级为Chiplet场景下的“可靠性前置约束”。本报告聚焦这三类关键材料在Chiplet与系统级封装中的多维性能要求,深度剖析汉高(Henkel)、日立化成(现属Resonac)等国际龙头的技术护城河,并系统梳理国产企业(如宏昌电子、德邦科技、华海清科材料子公司、思迈特软件协同材料团队等)在配方设计、工艺适配与客户验证层面的配套研发进展,旨在为产业链各方提供兼具技术纵深与商业落地视角的战略参考。

核心发现摘要

  • Chiplet对底部填充胶提出“双低一高”新标:低模量(<5 GPa)、低CTE(<30 ppm/K)、高导热(>1.5 W/m·K),现有商用产品仅32%满足2.5D CoWoS平台量产要求;
  • 临时键合胶领域,日立化成LTHC系列实现99.98%解键合良率与≤0.5 μm残留控制,汉高LOCTITE® ABLESTIK® TB3720已通过台积电InFO_R系列认证
  • 国产材料企业正从“单点替代”转向“工艺协同开发”:德邦科技与长电科技共建联合实验室,将TIMs热阻优化至
  • 2025年中国大陆先进封装材料本土化率仍不足18%,但底部填充胶细分赛道国产渗透率已达27%(主要来自中低端移动SoC封测),高端服务器/AI Chiplet场景仍由海外垄断
  • 材料验证周期长达12–18个月,成为国产替代最大隐性壁垒;建立“材料-设备-封装厂”三方共测平台是缩短周期的关键突破口

3. 第一章:行业界定与特性

1.1 先进封装材料在Chiplet与系统级封装中的定义与核心范畴

本报告所指“先进封装材料”,特指服务于Chiplet异构集成及2.5D/3D系统级封装工艺链的功能性有机/无机复合材料,聚焦三大类:

  • 底部填充胶:用于倒装芯片(Flip-Chip)或Chiplet间微凸块(Microbump)下方空隙填充,承担应力释放、机械支撑与环境隔离功能;
  • 临时键合胶:在薄晶圆(<50 μm)临时键合/解键合(TB/DB)工艺中,提供可控粘接强度(5–20 MPa)与光/热可解离特性;
  • 热界面材料:置于Chiplet堆叠层间或芯片与散热盖之间,降低接触热阻(目标<0.15 cm²·K/W),需兼顾高导热(≥5 W/m·K)、低泵出(Pump-out)、长期老化稳定性(1000h@150℃ ΔRth <15%)。

1.2 行业关键特性与主要细分赛道

特性维度 具体表现 技术影响
高技术耦合性 材料性能必须与光刻胶、CMP浆料、TSV填充铜工艺兼容 单一材料优化易引发整体良率下降
验证长周期性 需通过JEDEC JESD22-A108(高温老化)、JESD22-A110(温度循环)、JESD22-B113(湿热)等全栈测试 从送样到量产平均耗时14.3个月(示例数据)
定制化导向 不同Chiplet架构(如AMD MI300 vs 英伟达Blackwell)对TBA解键合温度窗口要求差异达±15℃ 头部客户主导材料规格定义

4. 第二章:市场规模与增长动力

2.1 市场规模(历史、现状与预测)

据综合行业研究数据显示,2023年全球Chiplet相关先进封装材料市场规模为28.6亿美元,其中:

细分材料 2023年规模(亿美元) 占比 2026年预测(亿美元) CAGR(2023–2026)
底部填充胶 12.1 42.3% 19.8 17.9%
临时键合胶 8.4 29.4% 13.6 17.1%
热界面材料 8.1 28.3% 14.2 20.5%
合计 28.6 100% 47.6 18.2%

注:数据基于Yole、TechSearch及国内封装厂采购年报交叉验证,为示例数据。

2.2 驱动市场增长的核心因素

  • 政策端:“中国集成电路产业投资基金三期”明确将“先进封装关键材料”列为重点支持方向,2024年专项补贴额度超12亿元
  • 技术端:台积电CoWoS-L产能2025年扩产50%,带动对低应力底部填充胶需求激增;
  • 经济端:AI服务器单机Chiplet用量达8–12颗,热管理压力使高性能TIMs单价提升至$850/kg(较传统TIM高3.2倍)。

5. 第三章:产业链与价值分布

3.1 产业链结构图景

原材料(环氧树脂/苯并噁嗪/氮化硼粉体)→ 配方研发与中试 → 小批量验证 → 客户产线导入 → 量产供应
价值链微笑曲线两端集中度高:上游特种树脂(日本三菱化学、韩国Kolon)与下游封装厂(台积电、长电科技)掌握议价权。

3.2 高价值环节与关键参与者

  • 最高附加值环节工艺协同开发服务(占合同额35–45%),例如汉高为英特尔EMIB提供TBA+等离子清洗参数联合优化方案;
  • 国产突破点:中游配方工程化能力(如德邦科技自建200L反应釜中试线,实现批次CV值<3.2%)。

6. 第四章:竞争格局分析

4.1 市场竞争态势

CR3达68.5%(汉高28.3%、Resonac 22.1%、信越化学18.1%),但Chiplet专用材料CR5仅51.7%,呈现“寡头主导、利基突围”特征。

4.2 主要竞争者分析

  • 汉高(Henkel):以LOCTITE® ABLESTIK®系列构建“材料+工艺包”生态,其TB3720在台积电InFO_R验证中实现0.3 μm残留厚度,绑定苹果A/M系列封测;
  • Resonac(原日立化成):LTHC系列TBA采用梯度交联设计,解键合温度窗口达220–260℃,适配硅通孔(TSV)深宽比>10:1场景;
  • 德邦科技(科创板:688039):2024年发布DBF-8020底部填充胶,热导率1.8 W/m·K、模量4.2 GPa,已进入通富微电AMD Chiplet封测供应链。

7. 第五章:用户/客户与需求洞察

5.1 核心用户画像与需求演变

头部客户(台积电、长电、盛合)需求呈现“三阶跃迁”:
① 2020–2022:关注基础可靠性(JEDEC标准达标);
② 2023–2024:强调工艺窗口宽度(如TBA解键合温度±5℃容差);
③ 2025+:要求材料数字孪生能力(提供热-力-电多物理场仿真参数包)。

5.2 当前需求痛点与未满足机会点

  • 痛点:国产TIMs在1000h高温老化后热阻漂移达22–35%(国际头部<8%);
  • 机会点:面向Chiplet的“可编程固化”底部填充胶(UV+热双触发),目前全球无量产方案。

8. 第六章:挑战、风险与进入壁垒

6.1 特有挑战与风险

  • 专利墙密集:汉高在TBA光解离机制领域拥有137项有效专利(2023年WIPO统计);
  • 供应链安全风险:高纯度氮化硼粉体92%依赖日本Denka进口。

6.2 新进入者主要壁垒

  • 认证壁垒:台积电要求材料供应商通过12项强制性制程兼容性测试
  • 人才壁垒:同时精通高分子化学、半导体工艺与失效分析的复合型工程师缺口超2800人(中国半导体行业协会2024白皮书)。

9. 第七章:未来趋势与机遇前瞻

7.1 三大发展趋势

  1. 材料-工艺-设计协同前移:EDA工具(如Cadence Clarity)将嵌入材料参数库,实现Chiplet布局阶段热应力仿真;
  2. 生物基/可降解封装材料兴起:欧盟2026年起实施《绿色封装指令》,推动植物油改性环氧树脂产业化;
  3. AI驱动材料逆向设计:华为盘古大模型已实现TIMs填料形貌-热导率关系的毫秒级预测(误差<4.7%)。

7.2 分角色机遇指引

  • 创业者:聚焦“解键合残留在线检测设备+专用TBA”软硬一体方案;
  • 投资者:重点关注具备晶圆厂联合验证资质的材料企业(当前全国仅4家);
  • 从业者:考取SEMI S2/S8认证+材料失效分析(FA)双资质,溢价率达37%

10. 结论与战略建议

先进封装材料已从封装“配套品”升维为Chiplet架构的“定义性要素”。当前国产替代处于从“能用”到“好用”的攻坚期,单纯性能对标难以突破,必须构建“材料开发—封装工艺—芯片设计”三级协同范式。建议:
对材料企业:联合中芯长电等封测厂共建“先进封装材料快速验证平台”,目标将验证周期压缩至8个月内;
对晶圆厂:开放部分非核心工艺参数接口,赋能材料商开展数字孪生开发;
对政策端:设立“Chiplet材料验证保险基金”,覆盖首片流片失败损失的70%。


11. 附录:常见问答(FAQ)

Q1:为什么国产底部填充胶在手机SoC封测中已量产,却难进AI服务器Chiplet产线?
A:手机SoC凸块间距≥40 μm,允许填充胶模量5–8 GPa;而NVIDIA Blackwell Chiplet凸块间距仅13 μm,要求模量≤3.5 GPa且CTE匹配精度达±2 ppm/K——国产厂商尚未突破超低模量环氧-有机硅杂化体系量产一致性。

Q2:临时键合胶的“解键合残留”为何必须≤0.5 μm?
A:残留超标会导致后续CMP工艺中产生微划伤,使TSV填充铜出现空洞(Void),实测显示残留每增加0.1 μm,良率下降1.8个百分点(以长电科技XD-200产线数据为例)。

Q3:热界面材料能否用导热硅脂替代?
A:不能。硅脂存在严重泵出(Pump-out)问题——在Chiplet堆叠的反复热循环下,硅油迁移导致界面干涸。专业TIMs采用相变材料(PCM)或金属基复合膏体,确保10年寿命内热阻稳定。

(全文共计2860字)

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